原子力顯微鏡,進(jìn)口AFM顯微鏡,SPM顯微鏡

這款原子力顯微鏡afm,atomic force microscope具有spm顯微鏡模式，是進(jìn)口高精度原子力顯微鏡品牌中原子力顯微鏡價(jià)格的afm顯微鏡產(chǎn)品。
原子力顯微鏡特色
堅(jiān)固可靠操作，科研級原子力顯微鏡和掃描探針顯微鏡
單原子步進(jìn)分辨率為100x100um掃描
超高精度重復(fù)定位，掃描范圍內(nèi)沒有邊界畸變
高靈敏度較低力測量
非常適合軟材料測量
模塊化結(jié)構(gòu)提供多種掃描探針模式
原子力顯微鏡afm工作模式
支持spm顯微鏡掃描技術(shù)
接觸式afm模式
非接觸式afm模式
半接觸式模式
相成像
力monitor
橫向力顯微鏡
力曲線分析
電子特性
磁力顯微鏡
stm顯微鏡