景頤光電(在線咨詢)-廣東積分球測試-ies測試積分球測試
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積分球內表面涂有一層高反射材料,當發散的光束照射到積分球的內壁時,光會被反射并散射多次,直到球壁上任一位置的光都具有相同的強度。此時光電二*管傳感器通過接收孔徑面積與整個球體面積的比值來確定光束的總功率。傳感器探測到的功率與入射總功率成正比,與光束發散度無關。為了做到這一點,傳感器必須被放置在只能看到散射光而不能看到入射光的位置。另外積分球也降低了進入光電二*管的功率,因此可以測量更高的功率。積分球測試
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擋板位于輸入端口和探頭之間,ies測試積分球測試,使未擴散光束不會直接照射到探頭上。當測量準直光束時,819c系列的擋板所放的位置應當使光束在經過球體內壁的次反射后不直接照射到探頭上。積分球測試
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反射率測量過程中,經積分球出射的光是入射光通過內壁的多次漫反射形成的,所以,光通過積分球后將受到非中性影響而產生一定的變化。將積分球內壁材料的非中性引入到反射測量積分球模型中,可以地評估待測樣品的反射率。積分球測試
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所謂積分球非中性,是指積分球內腔涂層的光譜反射比或多或少地隨波長變化的。反射率測量過程中,廣東積分球測試,經積分球出射的光是入射光通過內壁的多次漫反射形成的,所以,光通過積分球后將受到非中性影響而產生一定的變化。將積分球內壁材料的非中性引入到反射測量積分球模型中,可以地評估待測樣品的反射率。積分球測試
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由光譜輻亮度傳輸守恒規律可知,光線從積分球后半球內壁向積分球出光口傳輸時,如不考慮吸收氣體的影響,該光線上各點光譜輻亮度不變.因此通過分析積分球參考光源的后半球內壁涂層各處的光譜輻亮度分布差異來評價其均勻性.積分球測試
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若測定全反射率,需要將樣品放在積分球后。使用后端開口傾角是8°或10°的積分球,可測定包括鏡面反射在內的全反射率,如圖7。
積分球還會配置有標準白板、光阱、樣品架、孔塞等積分球附件,光電積分球測試,以各種光學測量的要求等等。其內壁涂有理想的白色高漫反射材料,進入積分球的光經過內壁漫反射層的多次反射后產生的光照度疊加形成均勻照度,進而能不均勻光束的影響。積分球測試
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