XRD可以用于定量分析

鑠思百檢測可提供xrd測試服務，以下是xrd測試的簡單介紹
x射線衍射儀是當今世界上先進的x射線衍射儀系統，它設計精密，硬件軟件功能齊全，能靈活地適應粉末，薄膜及完全晶體的各種微觀結構測定，分析和研究任務。步進馬達加光學編碼器確保測角儀快速而準確定位，入射及衍射光路的各種附件均安裝在高精度導軌上。同時配置有高溫樣臺：試樣所處高真空石墨罩，真空度達到2*10-3mpa，試樣高溫可加熱溫度為1100℃。小角衍射小角可以達到0.4度，主要測量介孔材料和其他高分子復合材料。廣角衍射：低角度可以達到5度，可以精確接收到小于10度的衍射峰。
xrd可以用于定量分析哪些內容
a.樣品的平均晶粒尺寸，基本原理：當x射線入射到小晶體時，其衍射線條將得彌散而寬化，晶體的晶粒越小，x射線衍射譜帶的寬化程度就越大。因此晶粒尺寸與xrd譜圖半峰寬之間存在一定的關系,即謝樂公式（scherrerequation），下期會詳細分析其原理與注意事項。
對于對于負載型催化劑表面的金屬顆粒，其顆粒大小d（單位nm）與其分散度d之間可以簡單地換算：d≈ 0.9/d(注：0.9這個常數是經驗值)。
b.樣品的相對結晶度：一般將強衍射峰積分所得的面積（as）當作計算結晶度的指標，與標準物質積分所得面積(ag)進行比較，結晶度=as/ag*100%。
c.物相含量的定量分析：主要有k值法也叫rir方法和rietveld全譜精修定量等。其中，rir法的基本原理為1:1混合的某物質與剛玉(al2o3),其強衍射峰的積分強度會有一個比值，該比值為rir值。通過將該物質的積分強度/rir值總是可以換算成al2o3的積分強度。對于一個混合物而言，物質中所有組分都按這種方法進行換算，后可以通過歸一法得到某一特定組分的百分含量。